رقم القطعة :
SN74BCT8245ANTG4
الصانع :
Texas Instruments
وصف :
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
نوع المنطق :
Scan Test Device with Bus Transceivers
مصدر التيار :
4.5V ~ 5.5V
درجة حرارة التشغيل :
0°C ~ 70°C
حزمة / القضية :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
حزمة جهاز المورد :
24-PDIP