رقم القطعة :
SN74ABT8952DL
الصانع :
Texas Instruments
وصف :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
نوع المنطق :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
مصدر التيار :
4.5V ~ 5.5V
درجة حرارة التشغيل :
-40°C ~ 85°C
تصاعد نوع :
Surface Mount
حزمة / القضية :
28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
حزمة جهاز المورد :
28-SSOP