رقم القطعة :
SN74BCT8374ADWRE4
الصانع :
Texas Instruments
وصف :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
نوع المنطق :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
مصدر التيار :
4.5V ~ 5.5V
درجة حرارة التشغيل :
0°C ~ 70°C
تصاعد نوع :
Surface Mount
حزمة / القضية :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
حزمة جهاز المورد :
24-SOIC